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      • ts-80镀层测试仪

        荧光X线膜厚计采用中文视窗操作测量系统解析度0.001µm小测量面积0.1mmφ可测量合金层之厚度和组成比例

        更新时间

        2025-10-25

        厂商性质

        生产厂家

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      • 荧光X线膜厚计

        荧光X线膜厚计采用中文视窗操作测量系统解析度0.001µm小测量面积0.1mmφ可测量合金层之厚度和组成比例

        更新时间

        2025-10-25

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